導(dǎo)通測(cè)試
參數(shù)編輯
檢測(cè)線纜的導(dǎo)通性能（開路、短路、錯(cuò)焊、漏焊等故障），導(dǎo)通測(cè)試可以根據(jù)用戶的測(cè)試精度和阻值情況靈活選擇2線或4線測(cè)試方式。
2線測(cè)試方式
測(cè)試電壓：0.1 V -20 V 測(cè)試電流：10 mA - 2.5 A 導(dǎo)通低阻：1 Ω- 2 kΩ 導(dǎo)通高阻：1 Ω - 2 kΩ 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 99 s 測(cè)試精度：± 2%
4線測(cè)試方式
測(cè)試電壓：0.1 V -20 V 測(cè)試電流：10 mA - 2.5 A 導(dǎo)通低阻：1 mΩ - 2 kΩ 導(dǎo)通高阻：1 mΩ - 2 kΩ 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 99 s 測(cè)試精度：± 2%
絕緣測(cè)試
檢測(cè)線纜的整體質(zhì)量（劃傷、針腳彎曲、絕緣等故障），絕緣測(cè)試可以根據(jù)用戶的要求或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)自行設(shè)置絕緣電阻值范圍。如航天、航空或軍事應(yīng)用等領(lǐng)域比一般工業(yè)應(yīng)用需要更高絕緣阻值要求。
測(cè)試電壓：2VDC -2120VDC (由測(cè)試板卡類型決定) 絕緣阻值： 50 kΩ- 5 GΩ 測(cè)試精度： 50 kΩ-5GΩ 短路電流： 2 V - 20 V : 40 mA 20 V - 2120 V : 10mA
上升/下降時(shí)間： 1 ms -60 s 測(cè)試時(shí)間： 1 ms - 999 s
耐壓測(cè)試(高壓)
檢測(cè)線纜的整體質(zhì)量（耐壓、接地、劃傷、破損、彎曲針腳、絕緣等故障）耐壓測(cè)試更能體現(xiàn)線纜的隱性故障。不同的線纜類型可以選擇不同的電壓（電源、高低頻線纜、總線、網(wǎng)絡(luò)線纜、通訊線纜等。）
~ DC耐壓測(cè)試
測(cè)試電壓：2 V - 6000 VDC (由測(cè)試板卡類型決定) 擊穿電流： 500 μA -100 mA 上升/下降時(shí)間： 1 ms -60 s 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 999 s
~ AC耐壓測(cè)試
測(cè)試電壓：100 V - 5000 VAC (由測(cè)試板卡類型決定) 擊穿電流： 500 μA -100mA 泄漏電流：500 μA - 100 mA 上升/下降時(shí)間： 1 ms -60 s 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 999 s
檢測(cè)線纜的導(dǎo)通性能（開路、短路、錯(cuò)焊、漏焊等故障），導(dǎo)通測(cè)試可以根據(jù)用戶的測(cè)試精度和阻值情況靈活選擇2線或4線測(cè)試方式。
2線測(cè)試方式
測(cè)試電壓：0.1 V -20 V 測(cè)試電流：10 mA - 2.5 A 導(dǎo)通低阻：1 Ω- 2 kΩ 導(dǎo)通高阻：1 Ω - 2 kΩ 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 99 s 測(cè)試精度：± 2%
4線測(cè)試方式
測(cè)試電壓：0.1 V -20 V 測(cè)試電流：10 mA - 2.5 A 導(dǎo)通低阻：1 mΩ - 2 kΩ 導(dǎo)通高阻：1 mΩ - 2 kΩ 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 99 s 測(cè)試精度：± 2%
絕緣測(cè)試
檢測(cè)線纜的整體質(zhì)量（劃傷、針腳彎曲、絕緣等故障），絕緣測(cè)試可以根據(jù)用戶的要求或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)自行設(shè)置絕緣電阻值范圍。如航天、航空或軍事應(yīng)用等領(lǐng)域比一般工業(yè)應(yīng)用需要更高絕緣阻值要求。
測(cè)試電壓：2VDC -2120VDC (由測(cè)試板卡類型決定) 絕緣阻值： 50 kΩ- 5 GΩ 測(cè)試精度： 50 kΩ-5GΩ 短路電流： 2 V - 20 V : 40 mA 20 V - 2120 V : 10mA
上升/下降時(shí)間： 1 ms -60 s 測(cè)試時(shí)間： 1 ms - 999 s
耐壓測(cè)試(高壓)
檢測(cè)線纜的整體質(zhì)量（耐壓、接地、劃傷、破損、彎曲針腳、絕緣等故障）耐壓測(cè)試更能體現(xiàn)線纜的隱性故障。不同的線纜類型可以選擇不同的電壓（電源、高低頻線纜、總線、網(wǎng)絡(luò)線纜、通訊線纜等。）
~ DC耐壓測(cè)試
測(cè)試電壓：2 V - 6000 VDC (由測(cè)試板卡類型決定) 擊穿電流： 500 μA -100 mA 上升/下降時(shí)間： 1 ms -60 s 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 999 s
~ AC耐壓測(cè)試
測(cè)試電壓：100 V - 5000 VAC (由測(cè)試板卡類型決定) 擊穿電流： 500 μA -100mA 泄漏電流：500 μA - 100 mA 上升/下降時(shí)間： 1 ms -60 s 測(cè)試時(shí)間：1 ms - 999 s